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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures

X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures

von Cyril Tchoubar und Victor A. Drits
übersetzt von R. Setton
Softcover - 9783642748042
106,99 €
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Beschreibung

New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.

Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons

Details

Verlag Springer Berlin
Ersterscheinung 13. Dezember 2011
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 593 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9783642748042
Seiten 371

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