Vejwlet-obrabotka

V sowremennom poluprowodnikowom materialowedenii wsö chasche trebuütsq tehnologii cifrowoj obrabotki signalow dlq powysheniq chuwstwitel'nosti i informatiwnosti metodow diagnostiki strukturnogo sowershenstwa monokristallow. Zadacha osobenno aktual'na dlq metodow, predostawlqüschih naglqdnoe izobrazhenie wnutrennej struktury kristalla. Predstawlennaq monografiq poswqschena woprosu primeneniq wejwlet-analiza w cifrowoj obrabotke izobrazhenij strukturnyh defektow monokristallicheskih poluprowodnikow. V kachestwe äxperimental'noj bazy, rassmatriwaütsq metody rentgenowskoj topografii i polqrizacionno-opticheskogo analiza. Predstawleno poätapnoe postroenie metodiki i algoritmow wejwlet-obrabotki. Izlozheny osnownye aspekty wejwlet-obrabotki w zadachah ustraneniq fonowoj neodnorodnosti polqrizacionno-opticheskih izobrazhenij i zernistogo kontrasta rentgenowskih topograficheskih snimkow. Rabota osnowywaetsq na materialah dissertacionnogo issledowaniq, poswqschönnogo dannomu woprosu i prowodiwshegosq s 2002 po 2006 g. Monografiq mozhet predstawlqt' interes dlq nauchnyh rabotnikow i inzhenernyh specialistow w oblasti tehnologij materialow mikro- i nanoälektroniki, cifrowoj obrabotki signalow i izobrazhenij.