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Untersuchung der Oberflächenschicht von Silizium mit Indiumbeschichtung

Untersuchung der Oberflächenschicht von Silizium mit Indiumbeschichtung

von Grechikhin Leonid Ivanovich und Yulia Shmermbek

Softcover - 9786202210676

23,90 €

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Beschreibung

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Rastertunnelmikroskopie und Spektroskopie von Strukturformationen auf den Oberflächen von Si(111) und Si(557) mit Clustern

Details

Verlag	Verlag Unser Wissen
Ersterscheinung	11. September 2025
Maße	22 cm x 15 cm x 0.7 cm
Gewicht	155 Gramm
Format	Softcover
ISBN-13	9786202210676
Seiten	92

Schlagwörter

Betriebswirtschaft und Management