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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

von Kwang-Ting (Tim) Cheng und Vishwani D. Agrawal
Hardcover - 9780792390251
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Beschreibung

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Details

Verlag Springer US
Ersterscheinung 30. Juni 1989
Maße 23.4 cm x 15.6 cm
Gewicht 418 Gramm
Format Hardcover
ISBN-13 9780792390251
Seiten 148

Schlagwörter

Electrical and Electronic Engineering, Elektrotechnik

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