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Una valutazione delle caratteristiche dei film sottili di ZnO con il metodo mSILAR

Una valutazione delle caratteristiche dei film sottili di ZnO con il metodo mSILAR

von Deepu Thomas
Softcover - 9786204031651
39,90 €
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Beschreibung

I materiali semiconduttori nanostrutturati di terza generazione sono di grande interesse per le loro proprietà multifunzionali e le loro applicazioni. Le nanostrutture di ZnO sono state impiegate per varie applicazioni che vanno dall'elettronica all'optoelettronica, dal rilevamento alle applicazioni biomediche e ambientali, grazie alle loro proprietà. Il presente libro si concentra sulla sintesi, caratterizzazione, applicazioni di film sottili di ZnO con il metodo mSILAR.

Details

Verlag Edizioni Sapienza
Ersterscheinung 24. August 2021
Maße 22 cm x 15 cm x 0.6 cm
Gewicht 143 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786204031651
Seiten 84

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