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Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali

Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali

von John Zhang und Tao Sun
Softcover - 9786207393619
35,90 €
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Beschreibung

Con l'aumento dell'importanza dell'intelligenza artificiale e del riconoscimento facciale nelle applicazioni, le tecniche di rilevamento delle caratteristiche locali vengono applicate sempre più spesso. Negli ultimi decenni sono stati sviluppati diversi algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali. La scelta dell'algoritmo più adatto per un'applicazione è un compito impegnativo. Questo libro passa in rassegna alcuni algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali e aiuta nella selezione degli algoritmi nelle applicazioni.

Details

Verlag Edizioni Sapienza
Ersterscheinung 17. April 2024
Maße 22 cm x 15 cm x 0.6 cm
Gewicht 149 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786207393619