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Beschreibung
Propomos uma nova abordagem escalável para reduzir a PD durante o teste a velocidade de circuitos sequenciais com LBIST baseado em scan, utilizando o esquema de lançamento sobre captura. Isto é conseguido através da redução do factor de actividade do CUT, através da modificação adequada dos vectores de teste gerados pela LBIST de circuitos sequenciais. A geração de queda significativa de potência (PD) durante o teste de velocidade realizado pelo Logic Built-In Self Test (LBIST) é uma séria preocupação para os CI modernos.
Details
| Verlag | Edições Nosso Conhecimento |
| Ersterscheinung | 09. Februar 2023 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.4 cm |
| Gewicht | 113 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786205684665 |
| Seiten | 64 |
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