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Beschreibung
Dieses Buch verfolgt das Ziel, Naturwissenschaftler mit den Methoden der röntgenographischen Kristallstrukturanalyse vertraut zu machen. Das Schwergewicht der Darstellung liegt auf der anwendungstechnischen Seite. So werden z. B. die wichtigen Aufnahmeverfahren sowie die automatischen Diffraktometer ausführlich behandelt und die verschiedenen Methoden zur Lösung des Phasenproblems an Hand von Beispielen ausführlich besprochen.
Eine Einführung für Naturwissenschaftler
Details
| Verlag | Vieweg & Teubner |
| Ersterscheinung | 06. Dezember 2012 |
| Maße | 24.4 cm x 17 cm |
| Gewicht | 601 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9783663077886 |
| Auflage | 3. Auflage 1987 |
| Seiten | 327 |
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