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Beschreibung
Characterization by Atomic Force Microscopy
Characterization by Atomic Force Microscopy
Details
| Verlag | Springer Berlin |
| Ersterscheinung | 17. Dezember 2007 |
| Maße | 23.5 cm x 15.5 cm |
| Gewicht | 494 Gramm |
| Format | Hardcover |
| ISBN-13 | 9783540739937 |
| Auflage | 2008 |
| Seiten | 198 |