Skorost' zwuka i plotnost' binarnyh splawow Ga-Bi i Pd-Si

Nesmotrq na burnoe razwitie metodow modelirowaniq iprqmogo issledowaniq struktury zhidkih metallowostaetsq aktual'nym issledowanie fiziko-himicheskihswojstw rasplawow. Nastoqschaq rabota poswqschenaissledowaniü skorosti ul'trazwuka impul'sno-fazowymmetodom i plotnosti gamma-absorbcionnym metodomrasplawow binarnyh sistem Ga-Bi i Pd-Si. Issledowaniqstrukturno-chuwstwitel'nyh swojstw w opredelennyhoblastqh ih fazowyh diagramm pokazywaüt strukturnyeneodnorodnosti zaklüchaüschiesq w obrazowanii ustojchiwojämul'sii obogaschennoj odnim iz komponentow. Rabotaposwqschena izucheniü dannogo qwleniq, opredeleniüäffektow swqzannyh s razrusheniem obrazowawshejsqämul'sii. Krome togo, w rabote soderzhitsq bogatyjsprawochnyj material po ukazannym sistemam poluchennyjawtorom w dannoj rabote, w perwuü ochered' ätoäxperimental'nye dannye o skorosti ul'trazwuka iplotnosti rasplawow binarnyh sistem Ga-Bi i Pd-Si.Krome togo, predlozhen nowyj metod izmereniqmezhfaznogo natqzheniq na granice rasslaiwaüschihsqzhidkometallicheskih sistem. Kniga budet poleznaspecialistam, rabotaüschim w oblasti fizikikondensirowannogo sostoqniq zanimaüschihsqissledowaniem rasplawow metallicheskih sistem.