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Sistema de medición AM-AM y AM-PM para transistores en RF y microondas

Sistema de medición AM-AM y AM-PM para transistores en RF y microondas

von Francisco Hirata, J. Apolinar Reynoso und Rigoberto Jauregui Duran
Softcover - 9783844339543
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Beschreibung

La linealidad en amplitud y fase se ha convertido en un tema muy importante debido al incremento en los requerimientos de eficiencia espectral en los nuevos esquemas de comunicación y en sistemas que incluyen amplificadores no lineales. Para aplicaciones tales como radares coherentes, la estabilidad en fase es una característica muy importante. Por otra parte cuando un transmisor, el cual es un amplificador de potencia, es operado cerca de su máxima potencia disponible, se presenta distorsión en amplitud y en fase, las cuales dificultan el enlace. Sin embargo, este modo no lineal de operación en los transmisores es atractivo para sistemas satelitales, pues en estos sistemas la potencia disponible es un recurso muy preciado. Para caracterizar la linealidad en función de la potencia de estos amplificadores se han definido parámetros tales como la compresión de amplitud (AM-AM), o la desviación de fase (AM-PM). En este texto se analiza una alternativa para medir distorsión en amplitud y fase a partir de la teoría de interferencia de señales.

Desarrollo de un método simple y preciso para caracterizar transistores y amplificadores de potencia en altas frecuencias

Details

Verlag Editorial Académica Española
Ersterscheinung 15. Juni 2011
Maße 22 cm x 15 cm x 0.7 cm
Gewicht 155 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9783844339543
Seiten 92

Schlagwörter