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Revisión de algunos algoritmos de detección de rasgos locales

Revisión de algunos algoritmos de detección de rasgos locales

von John Zhang und Tao Sun
Softcover - 9786207393589
35,90 €
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Beschreibung

A medida que la inteligencia artificial y el reconocimiento facial ganan importancia en las aplicaciones, las técnicas de detección de rasgos locales se aplican con mayor frecuencia. En las últimas décadas se han desarrollado muchos algoritmos diferentes de detección de rasgos locales. Elegir el algoritmo más adecuado para una aplicación es una tarea difícil. Este libro revisa algunos algoritmos de detección de rasgos locales y ayuda a seleccionar el algoritmo en las aplicaciones.

Details

Verlag Ediciones Nuestro Conocimiento
Ersterscheinung 17. April 2024
Maße 22 cm x 15 cm x 0.6 cm
Gewicht 149 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786207393589
Seiten 88

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