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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

von Bashir M. Al-Hashimi und Nicola Nicolici
Softcover - 9781441953155
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Beschreibung

This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Details

Verlag Springer US
Ersterscheinung 09. Dezember 2010
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 454 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9781441953155
Auflage Softcover reprint of the original 1st ed. 2003
Seiten 178

Schlagwörter

Circuits and Systems, Computer-Aided Design (CAD), Computer-Aided Engineering (CAD - CAE) and Design, Electrical and Electronic Engineering, Electrical Engineering, Electronic Circuits and Systems, Elektrotechnik, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)