Polnaq diagnostika sekcii induktiwnoj plazmy ionnogo podruliwaüschego ustrojstwa

Induktiwnaq xenonnaq plazma nizkogo dawleniq generiruetsq w whodnoj sekcii ionnogo podruliwaüschego ustrojstwa. Ee polnaq diagnostika sostoqla iz izmerenij integral'nyh swojstw (zapatentowano) i lokal'nogo opredeleniq parametrow plazmy. Tochnaq lokal'naq diagnostika raskrywaet raspredelenie parametrow plazmy s pomosch'ü cilindricheskih zondow Lengmüra. Ih prowoda byli zaschischeny obychnymi golymi schitami. Posleduüschij analiz pokazal, chto oni iskazhaüt xenonowuü plazmu, snizhaq wse ee parametry. Zatem zondowaq diagnostika byla special'no organizowana radial'no podwizhnym prqmym zondom-1 i dopolnitel'nym L-obraznym zondom-2. Oba oni rabotali w odnom osobom polozhenii: schit-1 otsutstwowal, a schit-2 byl nenulewym, chto pozwolqlo korrektirowat' dannye zonda-1. V rezul'tate byli predlozheny tri nowyh primeneniq zonda: a) ustranenie wliqniq na rezul'taty izmerenij zaschitnogo schita gologo zonda; b) izmerenie tolschiny obolochki zonda i srednej massy ionow s pomosch'ü cilindricheskih zondow w plazme Maxwel'qna; w) ocenka raspredeleniq plotnosti ionnogo toka na ionnyj äxtrakcionnyj älektrod ionnogo podruliwaüschego ustrojstwa, raspolozhennogo na ploskostnom simulqtore zonda (Pat. Applik-N).