PICTS ve PL Yöntemleri ile Yar¿iletken Yap¿lar¿n ¿ncelenmesi

Bu çal¿smada, GaInNAs / GaAs katk¿s¿z tekli ve çoklu kuantum kuyulu ve modülasyon katk¿l¿ üçlü kuantum kuyulu seyreltik nitratl¿ yar¿iletkenlerdeki derin tuzak seviyeleri "I¿¿kla Uyar¿lan Ak¿m Transiyent Spektroskopisi-Photo-Induced Current Transient Spectroscopy-PICTS" yöntemi kullan¿larak incelenmi¿tir. Bu yöntem ile ¿¿¿kla uyar¿mdan sonraki ak¿m bozulma (decay) e¿rilerinin s¿cakl¿kla de¿i¿imlerinden elde edilen PICTS sinyallerinden yararlan¿larak derin seviyelerin aktivasyon enerjileri (Ea), yakalama tesir kesitleri (¿) belirlenmi¿tir. Ayr¿ca bu örneklerin kontak kalitesini belirlemek için I-V karakteristi¿ine bak¿lm¿¿t¿r. Is¿l i¿leme tabi tutulmü ve tutulmam¿¿ katk¿s¿z tekli ve çoklu kuantum kuyulu yap¿lar için yap¿lan PICTS ölçümlerinde bulunan aktivasyon enerjileri ve yakalama tesir kesitleri k¿yaslan¿p tavlaman¿n örnekler üzerindeki etkisi incelenmi¿tir. Is¿l i¿leme tabi tutulmü modülasyon katk¿l¿ örnek olmad¿¿¿ için, sonuçlar sadece ¿s¿l i¿leme tabi tutulmam¿¿ modülasyon katk¿l¿ örnek için elde edilmi¿tir. Bu yüzden bu örnek için sadece derin seviyelerin aktivasyon ve yakalama tesir kesitleri elde edilmi¿tir. Elde edilen sonuçlar literatürle k¿yaslanarak tart¿¿¿lm¿¿t¿r.