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Beschreibung
Dannaq kniga poswqschena issledowaniü faktorow, wliqüschih na degradaciü rabochih harakteristik swetoizluchaüschih diodow. V knige dan obzor razwitiq swetoizluchaüschih diodow, proillüstrirowany osnownye oblasti primeneniq swetoizluchaüschih diodow, rassmotreny peredowye tehnologii wyraschiwaniq mnogokomponentnyh nanogeterostruktur (MLJe i MOS-gidridnyj metod), predstawlen analiz wozmozhnyh mehanizmow degradacii harakteristik swetoizluchaüschih diodow. Kniga prednaznachaetsq shirokomu krugu chitatelej, interesuüschihsq optoälektronikoj.
Istoriq i metody sozdaniq, issledowanie degradacii harakteristik swetoizluchaüschih diodow
Details
| Verlag | LAP LAMBERT Academic Publishing |
| Ersterscheinung | 13. Dezember 2011 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.6 cm |
| Gewicht | 161 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9783845470139 |
| Seiten | 96 |
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