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Beschreibung
Es richtet sich dabei an Studierende der Materialwissenschaft, Physik und Chemie an Universitäten, Hochschulen und Fachhochschulen, sowie an Anwender in der Industrie.
Der Inhalt
Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung – Beugung von Röntgenstrahlung – Hardware für die Röntgenbeugung – Methoden der Röntgenbeugung – Qualitative und quantitative Phasenanalyse – Zellparameterbestimmung – Röntgenprofilanalyse – Kristallstrukturanalyse – Röntgenografische Spannungsanalyse – Röntgenografische Texturanalyse – Kristallorientierungsbestimmung – Besonderheiten bei dünnen Schichten – Spezielle Verfahren – Komplexe Anwendungen - ÜbungsaufgabenDie Zielgruppen
Studierende der Materialwissenschaft, Physik und Chemie an Universitäten, Hochschulen und Fachhochschulen
Anwender in der Industrie
Die Autoren
Prof. Dr. Lothar Spieß, TU Ilmenau
Dr. Gerd Teichert, MFPA Weimar
Prof. Dr. Robert Schwarzer, TU Clausthal
Dr. Herfried Behnken, Access e.V. Aachen
Prof. Dr. Christoph Genzel, Helmholtz-Zentrum BerlinRöntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
Details
| Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH |
| Ersterscheinung | 02. Mai 2019 |
| Maße | 24 cm x 16.8 cm |
| Gewicht | 1076 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9783834812193 |
| Auflage | 3., überarb. Auflage 2019 |
| Seiten | 636 |