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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

von Umberto Celano
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Beschreibung

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed. 


Details

Verlag Springer International Publishing
Ersterscheinung 07. Juni 2018
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 312 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9783319819068
Auflage Softcover reprint of the original 1st ed. 2016
Seiten 175