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Métrica de idoneidad de ontologías

Métrica de idoneidad de ontologías

von Adolfo Lozano-Tello
Softcover - 9783639646177
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Beschreibung

El método OntoMetric permite a los usuarios medir la idoneidad de las ontologías existentes respecto a las necesidades de sus sistemas. En el texto se realiza una identificación de un marco multinivel de 160 características que deben ser consideradas para evaluar ontologías. Se proporciona el modelo conceptual de una ontología en el dominio de las ontologías, Reference Ontology, que está basada en el marco multinivel de características. Se ha elaborado un método basado en el método de jerarquías analíticas que mide la idoneidad de un conjunto de ontologías candidatas que pueden ser incorporadas en un nuevo sistema. El método ofrece una medida cuantitativa de su idoneidad y sirve para decidir, de forma justificada, qué ontologías son las más adecuadas para el sistema que el usuario va a desarrollar. Se describe también el soporte tecnológico que asiste al método.

Un método para seleccionar la ontología adecuada para sistemas basados en conocimientos

Details

Verlag Publicia
Ersterscheinung 26. Januar 2015
Maße 22 cm x 15 cm x 1.6 cm
Gewicht 381 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9783639646177
Seiten 244

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