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Beschreibung
Défi de Fiabilité : Maîtriser le Vieillissement et la Défaillance des Transistors en Conditions de Court-Circuit
Details
| Verlag | Éditions universitaires européennes |
| Ersterscheinung | 22. April 2025 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.7 cm |
| Gewicht | 155 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786208822989 |
| Seiten | 92 |