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Local Electrode Atom Probe Tomography

Local Electrode Atom Probe Tomography

von Brian P. Geiser, David J. Larson, Robert M. Ulfig, Thomas F. Kelly und Ty J. Prosa
Hardcover - 9781461487203
246,09 €
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Beschreibung

This book is the first, single-source guide to successful experiments using the local electrode atom probe (LEAP ® ) microscope. Coverage is both comprehensive and user friendly, including the fundamentals of preparing specimens for the microscope from a variety of materials, the details of the instrumentation used in data collection, the parameters under which optimal data are collected, the current methods of data reconstruction, and selected methods of data analysis. Tricks of the trade are described that are often learned only through trial and error, allowing users to succeed much more quickly in the challenging areas of specimen preparation and data collection. A closing chapter on applications presents selected, state-of-the-art results using the LEAP microscope.

A User's Guide

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Details

Verlag Springer US
Ersterscheinung 07. Dezember 2013
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 670 Gramm
Format Hardcover
ISBN-13 9781461487203
Seiten 318

Schlagwörter

Characterization and Analytical Technique, Nanochemistry, Nanophysics, Nanotechnologie, Nanotechnology, Nanowissenschaften, Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik), Spectroscopy, Spektroskopie - Spektrochemie - Massenspektrometrie, Werkstoffprüfung

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