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Beschreibung
Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.
Details
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Ersterscheinung | 03. Juni 2013 |
| Maße | 21 cm x 14.8 cm |
| Gewicht | 460 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9783731500193 |
| Seiten | 283 |
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