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Beschreibung
Introduction to Focused Ion Beams
is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.
Instrumentation, Theory, Techniques and Practice
Details
| Verlag | Springer US |
| Ersterscheinung | 19. November 2004 |
| Maße | 23.5 cm x 15.5 cm |
| Gewicht | 729 Gramm |
| Format | Hardcover |
| ISBN-13 | 9780387231167 |
| Seiten | 357 |
Schlagwörter
Condensed Matter Physics, Materialwissenschaft, Optical Materials, Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik), Spectroscopy, Spektroskopie - Spektrochemie - Massenspektrometrie, Surfaces - Interfaces and Thin Film, Technische Anwendung von elektronischen - magnetischen - optischen Materialien
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