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Indexação de Padrões de Difracção

Indexação de Padrões de Difracção

von Tania Campos
Softcover - 9786202991698
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Beschreibung

Este trabalho apresenta o modelo concebido para a análise de imagens contendo padrões de difração, bem como o software desenvolvido para fazer medições de ângulos e distâncias entre diferentes pontos característicos (sinais) incluídos nos padrões em estudo pelos pesquisadores do Centro de Pesquisa em Materiais Avançados (CIMAV). A principal razão para desenvolver este sistema é que os pesquisadores devem realizar o processo de análise e indexação de padrões de difração manualmente, uma tarefa que se torna entediante e propensa a erros humanos. É por isso que a ferramenta foi projetada para automatizar e auxiliar na indexação de padrões em imagens, facilitando o processo de detecção de sinais e, assim, conseguir uma medição mais precisa entre os elementos do padrão de difração analisado.

Um modelo para identificação automática através do processamento de imagens

Details

Verlag Edições Nosso Conhecimento
Ersterscheinung 17. November 2020
Maße 22 cm x 15 cm x 0.9 cm
Gewicht 227 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786202991698
Seiten 140

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