Identifikaciq SPICE parametrow po wol'tampernym harakteristikam

Staticheskie SPICE parametry whodqt w matematicheskie modeli komponentow, ispol'zuemyh pri proektirowanii älektronnyh ustrojstw. Izmerenie SPICE parametrow po testowym strukturam ili ih raschet po uchastkam wol'tampernyh harakteristik (VAH) mozhet priwodit' k bol'shim pogreshnostqm, ne pozwolqet opredelqt' wse parametry, indiwidual'nye parametry priborow ili wypolnqt' statisticheskij analiz. V dannoj rabote predlagaetsq metod identifikacii SPICE parametrow, pozwolqüschij oceniwat' wse staticheskie SPICE parametry i ih kowariacionnye matricy.Metod osnowan na postroenii mnogootklikowoj modeli, opisywaüschej semejstwo VAH. Zadacha rascheta SPICE parametrow w ätom sluchae sostoit w identifikacii parametrow modeli VAH po äxperimental'nym dannym. Razrabotana metodika identifikacii SPICE parametrow poluprowodnikowyh priborow (diodow i tranzistorow) i integrirowannyh struktur, pozwolqüschaq opredelqt' wse SPICE parametry, suschestwenno powysit' tochnost' ih oceniwaniq i obespechit' poluchenie kowariacionnyh matric ocenok ätih parametrow.Kniga prednaznachena kak dlq inzhenerow razrabotchikow, tak i dlq potrebitelej poluprowodnikowyh i mikroälektronnyh priborow.