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Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie

Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie

von Vanarajsinh Solanki
Softcover - 9786204698069
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Beschreibung

Dieses Buch konzentriert sich auf das Funktionsprinzip des AFM, seine verschiedenen Modi (d.h. Kontakt-, berührungslose und Klopfmodi), die Analyse einiger AFM-Ergebnisse und einige Anwendungen. Dieses Buch unterstreicht auch die Eigenschaften des AFM als vielseitiges und nützliches morphologisches Werkzeug zum Scannen einer großen Vielfalt von Oberflächen mit einer planaren Auflösung, die von Nanometerskalen bis hin zu atomaren Skalen reicht. Wir hoffen, dass dieses Buch für Forscher und Studenten hilfreich ist, um das Grundkonzept des AFM zu verstehen und es für verschiedene Arten von Proben einzusetzen.

Details

Verlag Verlag Unser Wissen
Ersterscheinung Mai 2022
Maße 22 cm x 15 cm x 0.4 cm
Gewicht 96 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786204698069
Seiten 52

Schlagwörter

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