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Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

von Jens Lienig und Matthias Thiele
Softcover - 9783030088118
90,94 €
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Beschreibung

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.

Details

Verlag Springer International Publishing
Ersterscheinung 14. Dezember 2018
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 277 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9783030088118
Auflage Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
Seiten 159

Schlagwörter

Electronic Circuits and Systems, Electronics and Microelectronics - Instrumentation, Elektronik, Processor Architectures, Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)

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