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Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales

Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales

von John Zhang und Tao Sun
Softcover - 9786207393596
35,90 €
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Beschreibung

L'intelligence artificielle et la reconnaissance faciale gagnant en importance dans les applications, les techniques de détection des caractéristiques locales sont de plus en plus utilisées. De nombreux algorithmes de détection des caractéristiques locales ont été développés au cours des dernières décennies. Le choix de l'algorithme le plus approprié pour une application est une tâche difficile. Ce livre passe en revue certains algorithmes de détection des caractéristiques locales et aide à la sélection des algorithmes dans les applications.

Details

Verlag Editions Notre Savoir
Ersterscheinung 17. April 2024
Maße 22 cm x 15 cm x 0.6 cm
Gewicht 149 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786207393596