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Beschreibung
Wir schlagen einen neuartigen, skalierbaren Ansatz zur Verringerung der TE während des At-Speed-Tests von sequentiellen Schaltungen mit scan-basiertem LBIST unter Verwendung des Launch-on-Capture-Schemas vor. Dies wird durch die Verringerung des Aktivitätsfaktors der CUT erreicht, indem die von der LBIST erzeugten Testvektoren für sequenzielle ICs entsprechend modifiziert werden. Die Erzeugung eines signifikanten Leistungsabfalls (PD) während des von Logic Built-In Self Test (LBIST) durchgeführten At-Speed-Tests ist ein ernstes Problem für moderne ICs.
Details
| Verlag | Verlag Unser Wissen |
| Ersterscheinung | 09. Februar 2023 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.5 cm |
| Gewicht | 119 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786205684610 |
| Seiten | 68 |
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