Diagnostika neisprawnostej w linejnyh i nelinejnyh analogowyh shemah

Process testirowaniq älektroniki qwlqetsq zhiznenno wazhnym wo wremq proektirowaniq i razrabotki sistemy, a takzhe wo wremq obsluzhiwaniq dlq podderzhaniq funkcionirowaniq sistemy. Metodologii testirowaniq w zawisimosti ot haraktera sistemy podrazdelqütsq na analogowye, cifrowye i smeshannye. Realizaciq metoda testirowaniq analogowyh shem wse esche ostaetsq slozhnoj zadachej iz-za otsutstwiq horosho razrabotannyh metodow i rastuschego urownq slozhnosti shem. Jeta kniga po diagnostike neisprawnostej linejnyh i nelinejnyh analogowyh shem pomozhet chitatelqm ili issledowatelqm horosho ponqt' fundamental'nye koncepcii testirowaniq analogowyh shem. Ona ohwatywaet diagnostiku neisprawnostej kak linejnyh, tak i nelinejnyh analogowyh shem. Ona znakomit chitatelq s problemami testirowaniq, modelqmi neisprawnostej i klassifikaciej metodow diagnostiki neisprawnostej. Predstawleno sowremennoe sostoqnie del w oblasti diagnostiki neisprawnostej linejnyh i nelinejnyh analogowyh shem i äxperimental'nye rezul'taty nekotoryh metodow diagnostiki neisprawnostej.