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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

von Igor L. Markov, John P. Hayes und Smita Krishnaswamy
Hardcover - 9789048196432
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Beschreibung

Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.

Details

Verlag Springer Netherland
Ersterscheinung 21. September 2012
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 377 Gramm
Format Hardcover
ISBN-13 9789048196432
Seiten 124

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