Autorenfreundlich Bücher kaufen?!
Beschreibung
Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
Details
| Verlag | Our Knowledge Publishing |
| Ersterscheinung | Juni 2025 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.6 cm |
| Gewicht | 149 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786208939458 |
| Seiten | 88 |