CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test

von Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
Hardcover - 9781402083624
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Beschreibung

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

Details

Verlag Springer-Verlag GmbH
Ersterscheinung Juni 2008
Maße 242 mm x 166 mm x 19 mm
Gewicht 445 Gramm
Format Hardcover
ISBN-13 9781402083624
Auflage Nicht bekannt
Seiten 196

Schlagwörter