Caracterização por raios X de cristais de diamante sintético HPHT de baixa deformação

Este estudo utiliza experiências de caracterização por raios X para compreender as questões da ciência dos materiais nos actuais extremos de alta pureza e baixa tensão no diamante sintético tipo IIa HPHT. Este tipo de diamante tem impurezas abaixo de 10ppb e grandes áreas onde a desorientação efectiva (o desvio do ângulo Bragg local nas partes deformadas do cristal em relação ao da região perfeita) da malha na região de 10-8. O primeiro objectivo era, portanto, caracterizar os diamantes sintéticos do tipo IIa HPHT neste limite de alta pureza e baixa deformação, e compreender a natureza dos defeitos e a sua contribuição para as deformações de longo alcance. Verificou-se que se trata de uma tarefa não trivial, e que será necessária a utilização de técnicas de raios X extremamente sensíveis. Esta investigação oferece uma oportunidade única para compreender a ciência dos materiais diamantíferos no domínio dos cristais de baixa estirpe. Prevê-se que a simplicidade essencial dos defeitos e a pureza do material permitirão experiências reprodutíveis que são rastreáveis até à interpretação teórica. Este tem sido há muito um objectivo da física dos diamantes.