Caractérisation STEM des grappes métalliques dans / sur les oxydes

Les amas métalliques dispersés dans ou sur une matrice de support sont des phénomènes clés dans de nombreux domaines technologiques. Deux exemples largement utilisés d'entre eux sont les agrégats de métal supporté dans des catalyseurs hétérogènes et les agrégats de métaux de transition dans des semi-conducteurs magnétiques dilués (DMS). L'activité catalytique et la sélectivité des catalyseurs dépendent de manière sensible des paramètres de structure tels que la taille et la forme des particules. Avec la même analogie, les propriétés magnétiques des oxydes de DMS sont liées de manière sensible aux défauts cristallins du matériau hôte suite au dopage du métal. Il est donc essentiel de comprendre la corrélation entre la nanostructure et la fonction des matériaux. L'imagerie par contraste Z est le meilleur candidat pour l'étude connexe en raison du degré élevé de résolution qu'elle offre et de la capacité unique qu'elle offre à détecter et à différencier les amas et la matrice d'oxyde en raison de la différence de leurs numéros atomiques. De plus, le développement dans le domaine des STEM favorise la conjugaison de la spectroscopie de perte d'énergie électronique (EELS) et de l'imagerie à contraste Z et leur utilisation généralisée pour l'analyse chimique au niveau presque atomique à l'interface, dans les secondes phases et les défauts isolés.