Caractérisation par rayons X de cristaux de diamant synthétique HPHT à faible contrainte

Cette étude utilise des expériences de caractérisation par rayons X pour comprendre les problèmes de science des matériaux aux extrêmes actuels de la haute pureté et de la faible déformation du diamant synthétique HPHT de type IIa. Ce type de diamant présente des impuretés inférieures à 10ppb et de grandes zones où la désorientation effective (l'écart de l'angle de Bragg local dans les parties déformées du cristal par rapport à celui de la région parfaite) du réseau est de l'ordre de 10-8. Le premier objectif était donc de caractériser les diamants synthétiques HPHT de type IIa dans cette limite de haute pureté et de faible déformation, et de comprendre la nature des défauts et leur contribution aux déformations à longue distance. Il s'est avéré qu'il s'agit d'une tâche non triviale, qui nécessitera le déploiement de techniques à rayons X extrêmement sensibles. Cette recherche offre une occasion unique de comprendre la science des matériaux diamantaires dans le domaine des cristaux à faible déformation. La simplicité essentielle des défauts et la pureté du matériau devraient permettre de réaliser des expériences reproductibles qui se prêtent à une interprétation théorique. C'est depuis longtemps un objectif de la physique du diamant.