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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

von Mohammed Ismail und Sleiman Bou-Sleiman
Softcover - 9781441995476
53,49 €
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Beschreibung

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 

Details

Verlag Springer US
Ersterscheinung 22. September 2011
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 178 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9781441995476
Auflage 2012
Seiten 89

Schlagwörter

Digitale Signalverarbeitung (DSP), Electronic Circuits and Systems, Elektronik, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile), Signal - Speech and Image Processing