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Beschreibung
A difracção de raios X é uma técnica não destrutiva muito poderosa para a caracterização de materiais cristalinos. Fornece informação sobre estruturas, fases, orientações preferenciais de cristal e outros parâmetros estruturais, como tamanho médio do grão, cristalino, deformação e defeitos de cristal. Os picos de difracção de raios X são causados pela interferência construtiva de um feixe monocromático de raios X espalhado em ângulos particulares de cada conjunto de planos de grelha durante uma amostra. Os picos de intensidade são observados pela distribuição dos átomos dentro da grelha. Consequentemente, o padrão de difracção de raios X é a impressão digital de arranjos atómicos periódicos durante um dado material. Esta revisão resume as tendências científicas relacionadas com o rápido desenvolvimento da técnica de difracção de raios X ao longo dos últimos cinco anos no que diz respeito aos campos dos produtos farmacêuticos, ciência forense, aplicações geológicas, e fabrico de vidro, engenharia civil, bem como na análise da corrosão.
Details
| Verlag | Edições Nosso Conhecimento |
| Ersterscheinung | 14. September 2022 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.5 cm |
| Gewicht | 119 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786205160831 |
| Seiten | 68 |