Yap¿sal Kod Klon Analizinde Metrik Kullan¿m¿

Gereksiz tekrarlanm¿¿ kodlar (klonlar) iyi dokümante edilmemi¿ ve bak¿m¿ zor olan kodlard¿r. Bu tip kodlarda, tespit edilen bir hatan¿n tüm tekrarlarda düzeltilmesi gerekir. Bu durum yaz¿l¿m bak¿m maliyetlerini önemli ölçüde art¿rd¿¿¿ gibi kodlar¿n okunabilirli¿i ve anlä¿labilirli¿i için daha fazla çaba sarf edilmesini de gerektirir. Günümüz literatüründe kod klon problemlerini azaltmak ya da engellemek için birçok teknik önerilmi¿tir. Bu tekniklerin odä¿nda basit klon ve yap¿sal klon kod tespiti yer almaktad¿r. Klon kod¿lar iki ana bäl¿k alt¿nda incelenmektedir. Yaz¿l¿m içerisinde kod parçac¿¿¿n¿n benzerli¿inden kaynaklanan kod tekrarlamalar¿na basit klon ad¿ verilirken, sistem mimarisi içerisinde, ayn¿ yap¿ ile in¿a edilmi¿ kodlara yap¿sal klon denmektedir. Basit klon tespit teknikleri, tekrarlanan kod parçac¿klar¿na geni¿ bir aç¿dan bakamad¿klar¿ için, tasar¿m seviyesindeki olas¿ tekrarlamalardan kaynaklanan yap¿sal kod klonlar¿n¿ saptayamamaktad¿r. Buradaki eksikli¿i gidermeyi amaçlayan yap¿sal klon tespitleri ise, yaz¿l¿mdaki üst seviye benzerliklerinin ortaya ç¿kart¿lmas¿, yeniden kullan¿labilirli¿in art¿r¿lmas¿d¿r.