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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

von Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty und Mohammad Tehranipoor
Softcover - 9781489989529
106,99 €
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Beschreibung

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Details

Verlag Springer US
Ersterscheinung 28. November 2014
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 359 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9781489989529
Auflage 2012
Seiten 212

Schlagwörter

Computerhardware, Electronic Circuits and Systems, Elektronik, Hardware Performance and Reliability, Microsystems and MEMS, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)