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Studio del difrettometro a raggi X (XRD)

Studio del difrettometro a raggi X (XRD)

von Ruchi Chandrakar
Softcover - 9786205209059
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Beschreibung

Una corretta preparazione del campione è fondamentale per ottenere dati di alta qualità al diffrattometro a raggi X. Se il campione non è stato sottoposto ai parametri per una corretta preparazione XRD, si introducono errori che rendono difficile o impossibile l'identificazione delle fasi e errate le stime delle abbondanze e della cristallinità. Idealmente, per ottenere buoni dati, sarebbe preferibile condurre tre condizioni: (a) totale casualità dell'orientamento dei cristalliti. (b) Numero sufficiente di cristalliti per indurre una distribuzione dell'intensità rappresentativa del campione. (c) Intensità di diffrazione sufficiente a soddisfare le statistiche di conteggio. Il presente documento illustra i metodi di preparazione perfetta dei campioni XRD di solidi, liquidi e gas. I materiali strutturalmente modificati in risposta all'interazione solido-gas hanno una grande importanza in molti settori. Le strutture a raggi X di sodio liquido, potassio e leghe sodio-potassio sono state studiate con un metodo migliorato. Utilizzando una tecnica a serbatoio, una superficie piana di metallo liquido è stata esaminata da un fascio monocromatico di raggi X in un diffrattometro a elevata focalizzazione.

Details

Verlag Edizioni Sapienza
Ersterscheinung 28. September 2022
Maße 22 cm x 15 cm x 0.4 cm
Gewicht 113 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786205209059
Seiten 64