SNOM sans ouverture

Dans ce livre, un microscope optique à balayage en champ proche (SNOM) basé sur une technique de diffusion sans ouverture est présenté pour résoudre les propriétés optiques des surfaces avec une résolution latérale atteignant 10 nm et mieux. La construction de l'instrument est basée sur un microscope à force atomique en mode dynamique (AFM) qui est couplé à un système de détection optique interférométrique hétérodyne sophistiqué. Un faisceau laser est focalisé sur le sommet de la pointe métallique ou diélectrique du microscope à force atomique. La lumière rétrodiffusée est collectée et interfère avec un faisceau de référence dont la fréquence est légèrement décalée par rapport au faisceau diffusé. En démodulant le signal de battement aux harmoniques supérieures de la vibration de la pointe, le champ lointain peut être supprimé efficacement, ne laissant que les informations du champ proche de l'interaction surface-pointe. L'amplitude et la phase du champ proche appartenant à la surface sont obtenues simultanément avec la topographie. Le SNOM sans ouverture (a-SNOM) présente plusieurs avantages par rapport au SNOM à ouverture bien connu : forte suppression de l'arrière-plan, grande sensibilité au contraste du matériau et une résolution limitée essentiellement par la taille de l'apex de la pointe.