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Secondary Ion Mass Spectrometry

Secondary Ion Mass Spectrometry

von Fred Stevie
Softcover - 9781606505885
74,20 €
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Beschreibung

This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique.

Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Details

Verlag Momentum Press
Ersterscheinung 15. September 2015
Maße 22.9 cm x 15.2 cm x 1.6 cm
Gewicht 424 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9781606505885
Seiten 290

Schlagwörter