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Scanning Electron Microscopy

Scanning Electron Microscopy

von Ludwig Reimer
Hardcover - 9783540639763
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Beschreibung

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Physics of Image Formation and Microanalysis

Physics of Image Formation and Microanalysis

Details

Verlag Springer Berlin
Ersterscheinung 17. September 1998
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 975 Gramm
Format Hardcover
ISBN-13 9783540639763
Auflage Second Edition 1998
Seiten 529

Schlagwörter

Condensed Matter Physics, Mathematik und Naturwissenschaften, Physics and Astronomy, Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik), Spectroscopy, Spektroskopie - Spektrochemie - Massenspektrometrie, Surface and Interface and Thin Film

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