Modelirowanie ASM kantilewera

Atomno-silowaq mikroskopiq (ASM) mozhet byt' ispol'zowana dlq atomnoj i nanorazmernoj harakterizacii powerhnosti kak w wozdushnoj, tak i w zhidkoj srede. ASM ispol'zuetsq dlq izmereniq mehanicheskih, himicheskih i biologicheskih swojstw issleduemogo obrazca. V osnowe ASM lezhit mikrokantilewer s nanonakonechnikom, wozbuzhdaemyj bazoj, i chuwstwitel'naq shema dlq skanirowaniq izobrazhenij. Proektirowanie i analiz takih mikrokantilewerow qwlqetsq slozhnoj zadachej w real'nom wremeni. V dannoj rabote rassmatriwaetsq proektirowanie i dinamicheskij analiz prqmougol'nyh mikrokantilewerow w rezhime kasaniq s äffektom "nakonechnik-massa". Komp'üternoe modelirowanie prowoditsq s ispol'zowaniem modelej s edinichnymi i raspredelennymi parametrami. Mezhatomnye sily mezhdu massoj nanonakonechnika i powerhnost'ü podlozhki rassmatriwaütsq s pomosch'ü modeli Lennarda Dzhonsa (LJ) i modeli DMT. Urawneniq dwizheniq polucheny kak dlq modeli s edinichnymi parametrami s odnoj stepen'ü swobody i dempfirowaniem szhimaüschej plenki, tak i dlq modeli s raspredelennymi parametrami pri garmonicheskom bazowom wozbuzhdenii. Takzhe issleduetsq nelinejnost' kantilewera s uchetom kubicheskoj zhestkosti. Model' s raspredelennymi parametrami uproschena s pomosch'ü approximacii odnoj mody s ispol'zowaniem shemy Galerkina.