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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

von Umberto Celano
Hardcover - 9783319395302
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Beschreibung

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed. 


Details

Verlag Springer International Publishing
Ersterscheinung 24. Juni 2016
Maße 23.5 cm x 15.5 cm
Gewicht 471 Gramm
Format Hardcover
ISBN-13 9783319395302
Seiten 175

Schlagwörter

Characterization and Analytical Technique, Elektronik, Microsystems and MEMS, Spectroscopy, Spektroskopie - Spektrochemie - Massenspektrometrie, Werkstoffprüfung

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