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Measurement of seeded defect width in the bearing using Sym5 wavelet

Measurement of seeded defect width in the bearing using Sym5 wavelet

von Manpreet Singh
Softcover - 9783330087262
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Beschreibung

This book is a great source for those who are working in the field of condition monitoring. Identifying the high frequency events in a signal is comparatively easy but this book elaborates about to spotting low frequency in detail which could be great source for the researchers working in this field. In addition, this book is an extract of different types of techniques being used in the field of condition monitoring.

Details

Verlag LAP LAMBERT Academic Publishing
Ersterscheinung 18. Mai 2017
Maße 22 cm x 15 cm x 1.1 cm
Gewicht 268 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9783330087262
Seiten 168

Schlagwörter

Technologie - allgemein