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Beschreibung
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Analyzing Temperature-Induced Variations in Electron Transport of Double-Gate and Silicon-On-Insulator MOSFETs
Details
| Verlag | LAP LAMBERT Academic Publishing |
| Ersterscheinung | 12. Februar 2025 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 1.1 cm |
| Gewicht | 268 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786208429300 |
| Seiten | 168 |
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