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Hot Carrier Degradation in CMOS LC Injection-Locked Frequency Dividers

Hot Carrier Degradation in CMOS LC Injection-Locked Frequency Dividers

von Sheng-Lyang Jang

Softcover - 9783639823455

95,20 €

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Beschreibung

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RF Performance of CMOS LC Injection-locked Frequency Dividers Under Over-voltage Operation

Details

Verlag	Golden Light Academic Publishing
Ersterscheinung	12. April 2016
Maße	22 cm x 15 cm x 0.9 cm
Gewicht	215 Gramm
Format	Softcover
ISBN-13	9783639823455
Seiten	132

Schlagwörter