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Beschreibung
Fault (technology), Design for testing, Stuck-at fault, Automatic test pattern generation
Details
| Verlag | OmniScriptum |
| Ersterscheinung | 26. Juni 2026 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.4 cm |
| Gewicht | 113 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786200299000 |
| Seiten | 64 |